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ボード上のはんだ不良、パターン故障を瞬時に検査・解析

わずか5秒！JTAGテストシステムの自動診断

  • BGA,CSPパッケージの基板検査ができる
  • X線では分からないBGAの半田不良を検出
  • 故障箇所をピン単位で診断できる
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フィクスチャのコスト削減

JTAGテストによるコスト削減

  • わずか5本のJTAG信号でボード検査できる　→フィクスチャ不要、多品種に対応
  • デジタル基板の80%-90%をテストできる　 →フィクスチャのピン数を大幅に削減
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高い技術力でお客様の製品検査をサポート

アンドールシステムサポートの技術支援

  • 1営業日以内のサポートレスポンス
  • テストコードの受託開発
  • 充実したユーザ教育の実施

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JTAGテストコードは自動生成！故障箇所は自動診断

JTAGテストによるコスト削減

5

検査工数、トータルコストを大幅に削減

トータルコスト削減

  • ボードテストのための準備工数を削減
  • 故障箇所の解析工数を削減
  • フィクスチャ費用を削減
  • 開発時のデバッグ工数を削減
  • 量産検査時の検査時間を削減

お役立ち情報

JTAGテストの実績基板

実績一覧

資料ダウンロード

資料一覧

導入までの流れ

導入フロー