JTAGテスト応用 Webセミナー

JTAGポートを備えたすべてのデバイスがバウンダリスキャンをサポートしているわけではありません。また、バウンダリスキャンに対応していても、一部の信号ピンへのアクセスが制限されているデバイスもあります。この課題を解決するため、CoreCommander関数を使用して、マイコンのコア（ARM、TriCore、MIPなど）を活用したテスト方法についてご説明します。

バウンダリスキャンの回路は、多くの電子機器に組み込まれていますが、ボードテストだけで使われるケースが多いようです。バウンダリスキャンを使ったデバイスのインシステム（オンボード）プログラミングの方法についてご説明します。

Pythonなどのスクリプトシステムを使用して、ボード（PCBA）の潜在的なアセンブリの問題に対処するための強力なテストプログラムを生成する方法をJTAGファンクションテスト（JFT）と呼びます。簡単なツールとスクリプト言語Pythonを使用して、効果的にJTAGバウンダリスキャンのテストデータを生成する方法についてご説明します。